臺(tái)式電鏡SEM(Scanning Electron Microscope)是一種能夠觀察材料表面微觀形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過掃描樣品表面并利用反射出的電子來獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。
 

　　臺(tái)式電鏡SEM主要有以下作用：
 

　　1.觀察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀察到微觀級(jí)別的表面結(jié)構(gòu)和形貌，為材料表面結(jié)構(gòu)分析提供依據(jù)。
 

　　2.分析元素成分分布：能夠進(jìn)行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生成元素分布圖像。這種方法可以用于材料表面的元素成分分析、微區(qū)元素分布分析等。
 

　　3.研究材料性質(zhì)：還能夠結(jié)合其他技術(shù)手段，如電子探針、能譜分析等技術(shù)，進(jìn)行材料物理性質(zhì)和化學(xué)性質(zhì)等方面的研究。通過對(duì)材料性質(zhì)的深入研究，有助于理解材料的本質(zhì)和性質(zhì)，為材料設(shè)計(jì)和改進(jìn)提供依據(jù)。
 

　　4.應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)：廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，例如細(xì)胞表面形態(tài)、細(xì)胞器的結(jié)構(gòu)等方面的研究。通過觀察生物體內(nèi)微觀結(jié)構(gòu)的形態(tài)，能夠加深人們對(duì)生物學(xué)的認(rèn)識(shí)，為藥物研發(fā)和治療疾病提供依據(jù)。
 

　　臺(tái)式電鏡SEM還可以進(jìn)行能譜分析，通過測(cè)量樣品表面的X射線能譜和退火電子能譜等，分析樣品表面的元素成分分布情況。能譜分析還可以用于區(qū)分不同的化學(xué)結(jié)構(gòu)和化學(xué)狀態(tài)，為材料的化學(xué)成分分析提供依據(jù)。收集二次電子信號(hào)：SEM收集反射回來的二次電子信號(hào)來生成圖像。這些二次電子具有和樣品表面形貌和拓?fù)湫螒B(tài)有關(guān)的信息，收集和分析這些信號(hào)可以獲得樣品表面的形貌信息。